ASTM F 980M-1996 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 09:40:23 浏览:9898
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【英文标准名称】:StandardGuideforMeasurementofRapidAnnealingofNeutron-InducedDisplacementDamageinSiliconSemiconductorDevices(Metric)
【原文标准名称】:测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
【标准号】:ASTMF980M-1996
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:破坏试验;中子;缺陷与故障;集成电路;辐射;导则;放射性照射;电子硬度;硬度试验;短的;辐射源;位移故障;半导体器件中感应位移故障;中子射线;脉冲中子;快速退火效果;弱点;退火;器件;电子探测器
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
【标准号】:ASTMF980M-1996
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:破坏试验;中子;缺陷与故障;集成电路;辐射;导则;放射性照射;电子硬度;硬度试验;短的;辐射源;位移故障;半导体器件中感应位移故障;中子射线;脉冲中子;快速退火效果;弱点;退火;器件;电子探测器
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:英语
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