IEC/PAS 62162 Edition 1.0-2000 微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 09:37:52  浏览:9261   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Filed-inducedcharged-devicemodeltestmethodforelectrostaticdischargewithstandthresholdsofmicroelectroniccomponents
【原文标准名称】:微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
【标准号】:IEC/PAS62162Edition1.0-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:微电子学;电子工程;电气工程;电子设备及元件;寿命试验;试验;半导体器件;湿度试验;静电学;温度试验
【英文主题词】:microelectronics;lifetest;testing;semiconductordevices;electronicequipmentandcomponents;temperaturetest;electricalengineering;electrostatics;humiditytest;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语